GB/T 5170.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 溫度試驗設(shè)備中的定義：試驗箱穩(wěn)定狀態(tài)下，工作空間各測量點(diǎn)在規(guī)定時間內(nèi)實測gao溫度和低溫度與標(biāo)稱溫度的上下偏差。

GB/T10592-2008 高低溫試驗技術(shù)條件中的定義：穩(wěn)定后，在任意時間間隔內(nèi)，工作空間中心溫度的平均值，和工作空間內(nèi)其它點(diǎn)的溫度的平均值之差。

JJF 1101-2003 環(huán)境試驗設(shè)備溫度、濕度校準(zhǔn)規(guī)范中定義：環(huán)境試驗設(shè)備在穩(wěn)定狀態(tài)下，顯示溫度平均值與工作空間中心店實測溫度平均值的差值。

GJB 5020-2003 溫度、濕度、振動綜合試驗設(shè)備校準(zhǔn)方法：無定義，計算方法與GB/T 5170.2相同，但取大值為溫度偏差。